ANSI MH10.8.2-1995 数据应用识别标准
时间:2024-05-26 11:32:24 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8433
【英文标准名称】:Dataapplicationidentifierstandard
【原文标准名称】:数据应用识别标准
【标准号】:ANSIMH10.8.2-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:识别;数据;字符集;编码;信息;代码表示;定义
【英文主题词】:encoding;charactersets;definitions;identification;codedrepresentation;information;data
【摘要】:
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_240_00;35_020
【页数】:88P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor devices--Discrete devices Part 2:Rectifier diodes Section One--Blank detail specification for rectifier diodes(including avalanche recti-fier diodes),ambient and case-rated,up to 100A |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
半导体整流器件 |
| ICS分类： |
电子学 >>
半导体器件 >>
二极管
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| 替代情况： | GB/T 6351-1986 |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1998-01-01 |
| 实施日期： | 1999-06-01 |
| 首发日期： | 1986-05-02 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 电子部标准化所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：13， 字数：22千字 |
适用范围
本空白详细规范规定了制定环境或管壳额定整流二极管（包括雪崩整流二级管）详细规范的基本原则，制定该范围内的所有详细规范应尽可能与本空白详细规范相一致。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体整流器件 电子学 半导体器件 二极管
基本信息
| 标准名称： | 无损检测仪器 射线探伤用密度计 |
| 英文名称： | Non-destructive testing instruments —The densimeter for radiography |
| 中标分类： |
仪器、仪表 >>
试验机与无损探伤仪器 >>
X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器 |
| ICS分类： |
试验 >>
无损检测
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| 替代情况： | 替代JB/T 6220-2004 |
| 发布部门： | 中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2011-12-20 |
| 实施日期： | 2012-04-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 归口单位： | 全国试验机标委会 |
| 起草单位： | 深圳市华测检测技术股份有限公司、济宁鲁科检测器材有限公司、辽宁仪表研究所、大连希奥特检测设备有限公司 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2012-04-01 |
适用范围
本标准规定了射线探伤用密度计的产品型号、要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存等内容。
本标准适用于光透式射线探伤用密度计。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 仪器 仪表 试验机与无损探伤仪器 X射线 磁粉 荧光及其他探伤仪器 试验 无损检测